介電常數(shù)測試儀設(shè)備
型 號GDAT-A
更新時間2024-11-24
廠商性質(zhì)生產(chǎn)廠家
報價
產(chǎn)品概述
介電常數(shù)測試儀設(shè)備符合標(biāo)準(zhǔn):GB/T1409-2006測量電氣絕緣材料在工頻、音頻、高頻下電容率和介質(zhì)損耗因數(shù)的推薦方法;GB/T1693-2007硫化橡膠介電常數(shù)和介質(zhì)損耗角正切值的測定方法;ASTM D150-11實心電絕緣材料的交流損耗特性和電容率(介電常數(shù))的標(biāo)準(zhǔn)試驗方法;GBT5594.4-2015電子元器件結(jié)構(gòu)陶瓷材料性能測試方法
介電常數(shù)測試儀設(shè)備1.信號源: DDS數(shù)字合成信號 100KHZ-160MHZ2.信號源頻率精度3×10-5 ±1個字,6位有效數(shù)3.Q值測量范圍:1～1023Q值量程分檔:30、100、300、1000、自動換檔或手動換檔;.電感測量范圍:1nH～140mH 自身殘余電感和測試引線電感的自動扣除功能電容直接測量范圍:1pF～25nF主電容調(diào)節(jié)范圍: 17～240pF準(zhǔn)確度 150pF以下±1pF;150pF以上±1%.信號源頻率覆蓋范圍100kHz～160MHz合格指示預(yù)置功能范圍:5～1000環(huán)境溫度:0℃～+40℃;消耗功率:約25W;電源:220V±22V,50Hz±2.5Hz。S916(數(shù)顯)介電常數(shù)εr和介質(zhì)損耗因數(shù)tanδ測試裝置:數(shù)顯式微桿,平板電容器:極片尺寸:
38mm極片間距可調(diào)范圍:≥15mm夾具插頭間距:25mm±0.01mm夾具損耗正切值≤4×10-4 (1MHz)測微桿分辨率:0.001mm測試極片:材料測量直徑Φ38mm厚度可調(diào) ≥ 15mm 液體杯:測量極片直徑 Φ38mm; 液體杯內(nèi)徑Φ48mm 、深7mm電感組LKI-1:分別有0.05μH、0.1μH、0.5μH、2.5μH、10μH、50μH、100μH、1mH、5mH、10mH十個電感組成。全數(shù)字處理和顯示,革除傳統(tǒng)Q表的電容刻度盤,實現(xiàn)任意頻率點測試L值和Q值。本公司創(chuàng)新的自動Q值讀取技術(shù),使測Q分辨率至0.1Q。DPLL合成發(fā)生1kHz～70MHz,測試信號。低至20nH殘余電感,保證高頻時直讀Q值的誤差較小。TFT彩頻多參數(shù)顯示:測試頻率,電容值,電感值,Q值,ε和tanδ等。Q值量程自動/手動量程控制。數(shù)字化Q值預(yù)置,能提高批量測試的可靠性和速度。
